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    IC供應(yīng)PDF資料非IC供應(yīng)

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    SN74BCT8373ADW 全國供應(yīng)商、價格、PDF資料

    型號:廠商:批號:封裝:
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    SN74BCT8373ADW詳細(xì)規(guī)格

    類別:邏輯 - 專用邏輯
    描述:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
    系列:74BCT
    制造商:Texas Instruments
    邏輯類型:掃描測試設(shè)備,帶 D 型鎖存器
    電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
    位數(shù):8
    工作溫度:0°C ~ 70°C
    安裝類型:表面貼裝
    封裝/外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
    供應(yīng)商器件封裝:24-SOIC
    包裝:管件

    SN74BCT8373ADWE4詳細(xì)規(guī)格

    類別:邏輯 - 專用邏輯
    描述:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
    系列:74BCT
    制造商:Texas Instruments
    邏輯類型:掃描測試設(shè)備,帶 D 型鎖存器
    電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
    位數(shù):8
    工作溫度:0°C ~ 70°C
    安裝類型:表面貼裝
    封裝/外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
    供應(yīng)商器件封裝:24-SOIC
    包裝:管件

    SN74BCT8373ADWG4詳細(xì)規(guī)格

    類別:邏輯 - 專用邏輯
    描述:IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
    系列:74BCT
    制造商:Texas Instruments
    邏輯類型:掃描測試設(shè)備,帶 D 型鎖存器
    電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
    位數(shù):8
    工作溫度:0°C ~ 70°C
    安裝類型:表面貼裝
    封裝/外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
    供應(yīng)商器件封裝:24-SOIC
    包裝:管件

    SN74BCT8373ADWR詳細(xì)規(guī)格

    類別:邏輯 - 專用邏輯
    描述:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
    系列:74BCT
    制造商:Texas Instruments
    邏輯類型:掃描測試設(shè)備,帶 D 型鎖存器
    電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
    位數(shù):8
    工作溫度:0°C ~ 70°C
    安裝類型:表面貼裝
    封裝/外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
    供應(yīng)商器件封裝:24-SOIC
    包裝:帶卷 (TR)

    SN74BCT8373ADWRE4詳細(xì)規(guī)格

    類別:邏輯 - 專用邏輯
    描述:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
    系列:74BCT
    制造商:Texas Instruments
    邏輯類型:掃描測試設(shè)備,帶 D 型鎖存器
    電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
    位數(shù):8
    工作溫度:0°C ~ 70°C
    安裝類型:表面貼裝
    封裝/外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
    供應(yīng)商器件封裝:24-SOIC
    包裝:帶卷 (TR)

    SN74BCT8373ADWRG4詳細(xì)規(guī)格

    類別:邏輯 - 專用邏輯
    描述:IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
    系列:74BCT
    制造商:Texas Instruments
    邏輯類型:掃描測試設(shè)備,帶 D 型鎖存器
    電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
    位數(shù):8
    工作溫度:0°C ~ 70°C
    安裝類型:表面貼裝
    封裝/外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
    供應(yīng)商器件封裝:24-SOIC
    包裝:帶卷 (TR)

    SN74BCT8373ADW供應(yīng)商

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