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    IC供應PDF資料非IC供應

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    SN74BCT8244ADWR 全國供應商、價格、PDF資料

    型號:廠商:批號:封裝:
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    SN74BCT8244ADWR詳細規(guī)格

    類別:邏輯 - 專用邏輯
    描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
    系列:74BCT
    制造商:Texas Instruments
    邏輯類型:掃描測試設備,帶緩沖器
    電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
    位數(shù):8
    工作溫度:0°C ~ 70°C
    安裝類型:表面貼裝
    封裝/外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
    供應商器件封裝:24-SOIC
    包裝:帶卷 (TR)

    SN74BCT8244ADWRE4詳細規(guī)格

    類別:邏輯 - 專用邏輯
    描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
    系列:74BCT
    制造商:Texas Instruments
    邏輯類型:掃描測試設備,帶緩沖器
    電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
    位數(shù):8
    工作溫度:0°C ~ 70°C
    安裝類型:表面貼裝
    封裝/外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
    供應商器件封裝:24-SOIC
    包裝:帶卷 (TR)

    SN74BCT8244ADWRG4詳細規(guī)格

    類別:邏輯 - 專用邏輯
    描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC
    系列:74BCT
    制造商:Texas Instruments
    邏輯類型:掃描測試設備,帶緩沖器
    電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
    位數(shù):8
    工作溫度:0°C ~ 70°C
    安裝類型:表面貼裝
    封裝/外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
    供應商器件封裝:24-SOIC
    包裝:帶卷 (TR)

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